:: votre heure locale ()
Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique
Année : 2017.
© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Photothèque.
Tags associés : Electronique & traitement du signal, hyperfréquence, UMPHY,
En résumé
Enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Unité mixte de physique CNRS/THALES.
Bruno Marcilhac à côté d’une enceinte de caractérisation à basse température de circuits supraconducteurs dits à haute température critique. Ces composants servent pour le traitement du signal hyperfréquence.
